检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:于向东 彭力 张仲毅 赵丽新 张海平 刘永宽 顾宁[2] 钱峰[2] 陆祖宏[2] 韦钰[2]
机构地区:[1]中国华晶电子集团公司掩膜制造中心,无锡214061 [2]东南大学分子与生物分子电子学国家教委开放实验室,南京210096
出 处:《微电子技术》1996年第3期49-52,共4页Microelectronic Technology
摘 要:在发展流动亚相法制备高粘度聚合物分子单层膜装置的基础上,研究制备大面积、高质量的PMMALB膜抗蚀层,并用于100mmCr掩模版的电子束光刻制造技术中,采用现行标准的湿法工艺获得了分辨率为0.5μm,特征线宽为0.3μm的高分辨率100mm铬掩模版。为深亚微米掩模版制造的研究探索了一条新路。
关 键 词:铬掩模版制造 光刻 电子束 PMMALB膜 IC
分 类 号:TN405.7[电子电信—微电子学与固体电子学]
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