X射线光电子能谱在配合物研究中的应用及其研究进展  

Application of X-Ray Photoelectron Spectroscopy to the Study of Complexes and Its Progress

作　　者：袁欢欣[1] 欧阳健明[1] 

机构地区：[1]暨南大学化学系,广东广州510632

出　　处：《光谱学与光谱分析》2007年第2期395-399,共5页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：国家自然科学基金项目(20471024);国家自然科学基金重点项目(20031010)资助

摘　　要：通过研究内层电子结合能及其氧化态的变化,X射线光电子能谱(XPS)可以鉴别元素种类和价态、测定元素的相对含量、了解中心离子与配位原子的相互作用和验证量子化学理论。XPS已成为研究配合物中配位位点、电荷分配和配合物结构的有力工具。X-ray photoelectron spectroscopy （XPS） provides information about the core-level binding energies and oxidation states of complexes. It can be used to identify the species and valence states of elements, measure the relative content of elements, investigate the interaction between ligands and central ions, and verify the results obtained by quantum chemistry theory. XPS has been found to be a powerful tool for identifying coordination site, evaluating charge redistribution, and characterizing geometry of complexes.

关 键 词：XPS 配合物 配位化学 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]