电镜标本包埋中几种常见问题的处理  

Methods of Resolving Common Embedding Problemes for Electron Microscopy

作　　者：石洪波[1] 武忠弼[1] 

机构地区：[1]同济医科大学超微病理学研究室

出　　处：《电子显微学报》1989年第3期77-78,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：本文介绍两种简单、行之有效的解决Epon 812包埋问题的补救方法,并能出导致这些问题的原因。Re-embedding and baking-freezing, the two simple, effective methodS of resolving Epon 812 embedding problems, are described in this article. The reasons of causing the problemes are also mentioned.

关 键 词：医学生物学 电镜标本 包埋标本 

分 类 号：Q336[生物学—遗传学]