小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关  

Dependence of ageing rate on the radiation intensity in accelerated ageing test of the small cell drift chamber

作　　者：沈洪涛[1] 陈昌[2] 陈元柏[2] 朱启明[2] 金艳[2] 刘荣光[2] 马骁妍[2] 王岚[2] 阮向东[1] 王祥高[1] 徐美杭[2] 

机构地区：[1]广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004 [2]中国科学院高能物理研究所,北京100049

出　　处：《核电子学与探测技术》2007年第2期359-362,375,共5页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：得到北京正负电子对撞机重大改造工程的支持

摘　　要：在小单元漂移室多次模拟老化实验中,观察到测量所得的老化率与辐照放射源强度的相关,讨论了产生此种相关的可能原因。In the accelerated aging experiments of small cell drift chamber, the dependence of aging rate on the source activity was observed. The possible understanding or this dependence was discussed.

关 键 词：小单元漂移室 放射源强度 老化率 阳极丝电流 光电峰位 

分 类 号：O571[理学—粒子物理与原子核物理]