光缆试验过程中的波长相关附加损耗：不同G．655光纤与标准G．652光纤的直接对比  

作　　者：吴静（译） 陈晓燕（译） 

出　　处：《光纤光缆传输技术》2007年第1期12-16,共5页

摘　　要：通过使含有G．655光纤和标准G．652光纤的标准管道光缆经受可产生明显损耗增加的温度、拉伸和心轴。面板压扁试验，挪威Telenor公司的技术人员研究和比较了一系列G．655光纤与标准G．652光纤的弯曲性能。他们测量了试验过程中附加损耗与波长的关系。揭示出不同光纤的弯曲性能有很大差别。标准G．652光纤在所有试验中都被证明是等级排列最佳的光纤。

关 键 词：光纤 光缆 G.655 G.652 试验 损耗 

分 类 号：TN929.11[电子电信—通信与信息系统]