半导体探测器中带电粒子发射吸收效率的计算方法  

Calculation Method of Absorption Efficiency for Charged Particle Emission in Silicon Detector

作　　者：柳卫平[1] 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院,北京102413

出　　处：《原子能科学技术》2007年第2期169-171,共3页Atomic Energy Science and Technology

基　　金：国家重点基础研究发展规划资助项目(G200077400);国家自然科学基金资助项目(19735001;10045002);国家杰出青年科学基金资助项目(10025524)

摘　　要：采用能量损失计算和分层近似,发展了1套在半导体探测器中的带电粒子发射吸收效率计算方法,计算结果与实验结果符合良好。本文提供了1个可靠估计带电粒子吸收效率的简易方法。By using the energy loss calculation and layer approximation, the calculation method of absorption efficiency for charged particle emission in silicon detector was developed. The calculated result is in good agreement with experiments. This method provides a simple and reliable tool for getting the absorption efficiency.

关 键 词：带电粒子发射 能量损失 吸收效率 

分 类 号：TL814[核科学技术—核技术及应用]