检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:金雷鸣
机构地区:[1]上海市质量检测技术研究院
出 处:《上海计量测试》2007年第2期24-26,共3页Shanghai Measurement and Testing
摘 要:晶体管特性图示仪,有的也叫半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)是一种直接显示晶体管(半导体管)各种特性曲线的测量仪器,通过图示仪示波管上的标尺刻度可以直观地读出被测量晶体管(半导体管)的各项参数。图示仪可以用来测量各种晶体三极管和二极管、场效应管、可控硅、双基极管、电阻、电容以及部分数字集成电路等,在电子、自动化、国防、科研等领域使用十分普遍。
关 键 词:晶体管特性图示仪 集电极电流 偏转因数 检定 Y轴 测量仪器 半导体管 数字集成电路
分 类 号:TN32[电子电信—物理电子学]
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