氖的高离化态离子激发光谱和能级寿命测量  

作　　者：王友德[1] 马新文[1] 杨治虎[1] 杜一飞[1] 刘惠萍[1] 赵孟春[1] 郭天瑞[1] 王春芳[1] 

机构地区：[1]中国科学院近代物理研究所,兰州730000

出　　处：《中国科学（A辑）》1996年第9期850-856,共7页Science in China(Series A)

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：采用束箔技术研究47MeV能量的氖离子和不同材料、不同厚度的C箔(39μg/cm^2)和Al箔(3.4mg/cm^2)相互作用,产生高离化态的类H(Ne X)、类He(NeⅨ)、类Li(Ne　Ⅷ)、类Be(Ne　Ⅶ)等少电子离子,并测量了这些离子的激发光谱和能级寿命.

关 键 词：束箔技术 高离化态离子 激发光谱 能级寿命 氖 

分 类 号：O562.3[理学—原子与分子物理]