均匀设计在多响应线性模型失拟检验中的最优性  

The optimality of uniform designs of the test for lack of fit of linear multiresponse models

作　　者：张宣昊[1] 岳荣先[2] 

机构地区：[1]上海第二工业大学理学院,上海201209 [2]上海师范大学数理信息学院,上海200234

出　　处：《上海师范大学学报（自然科学版）》2007年第2期12-16,共5页Journal of Shanghai Normal University(Natural Sciences)

基　　金：国家自然科学基金项目(10271078);上海高校选拔培养优秀青年教师科研专项基金项目(YQ306004);上海市教委科研项目(05DZ03);教育部高校博士点专项科研基金项目(20060270002)

摘　　要：运用Khuri(1985)组合响应的方法,将Wiens(1991)的结论推广至多响应情形.证明均匀设计在对多响应线性模型作显著性检验时,在模型失拟情况下使检验的功效函数最小值达到最大,在模型未失拟情况下使检验的功效函数最大值达到最小.The paper extends the result of Wiens（ 1991 ） to the multiresponse model. It is shown that the uniform design maximizes the minimum power of the standard test for lack of fit when the model is lack of fit and minimizes the maximum power when the model is true.

关 键 词：多响应线性模型 失拟检验 均匀设计 

分 类 号：O212.6[理学—概率论与数理统计]