CWC映射和度量化定理(英文)  

CWC Mappings and Metrization Theorems

作　　者：燕鹏飞[1,2] 林寿[3] 

机构地区：[1]五邑大学数学系 [2]安徽大学数学系,安徽合肥230039 [3]漳州师范学院数学系

出　　处：《数学进展》2007年第2期153-158,共6页Advances in Mathematics（China）

基　　金：Supported by the National Science Foundation of China(No.10471084,No.10571151)

摘　　要：利用CWC映射,本文获得了对称度量空间和g可度量空间的特征,建立了几个度量化定理,改进了一些已知结果．主要的定理是证明正则空间X是可度量化空间当且仅当存在X上的CWC映射g满足如下条件: (Ⅰ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有xn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x．(Ⅱ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有yn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x．By using the concept of CWC, we establish several new metrization theorems, and obtain the characterization of g-metrizable spaces and symmetric spaces, which generalize some known results.

关 键 词：可度量化空间 CWC映射 对称度量空间 g可度量空间 

分 类 号：O189.1[理学—数学]