扫描近场光学显微镜原理及其应用  

作　　者：邓江东[1] 张春平[1] 李增发[1] 张光寅[1] 张彦军[1] 

机构地区：[1]南开大学物理系,天津300071

出　　处：《激光与光电子学进展》1997年第2期3-8,共6页Laser & Optoelectronics Progress

摘　　要：扫描近扬光率显微镜（SNOM）是八七年代以来迅速发展起来的一种光学扫描探针显微技术。本文对SNOM的发展历史、基本原理、技术方法、理论问题及应用前景进行了系统的介绍。

关 键 词：扫描近场 光学显微镜 纳米微结构 近场光谱 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]