X射线荧光光谱分析进展  

作　　者：谢荣厚[1] 高新华[1] 邬时海[2] 

机构地区：[1]冶金部钢铁研究总院,北京100081 [2]冶金部自动化研究院,北京100051

出　　处：《冶金分析》1997年第2期34-38,共5页Metallurgical Analysis

摘　　要：90年代以来,随着电子技术和电子计算机的飞速发展,X 射线光谱仪,X 荧光分析技术和计算机软件方面的进步是十分引人注目的。世界各主要仪器制造商相继推出了由计算机控制的高智能化、自动化和小型化的新一代产品,如 PW2600,PW2400,RIX3000,SRS3000,ARL8410等仪器。

关 键 词：X射线光谱仪 荧光光谱法 

分 类 号：TH744.15[机械工程—光学工程]