用偏相关分析电离层NmF2与低层大气等压面高度的相关性  

作　　者：徐桂荣[1,2,3] 万卫星[1] 宁百齐[1] 

机构地区：[1]中国科学院地质与地球物理研究所 [2]中国科学院武汉物理与数学研究所,武汉430071 [3]中国科学院研究生院,北京100049

出　　处：《科学通报》2007年第9期1069-1074,共6页Chinese Science Bulletin

基　　金：中国科学院知识创新工程方向性项目(批准号:KZCX3-SW-144);国家自然科学基金项目(批准号:40636032);国家重点基础研究发展计划(编号:2006CB806306)资助

摘　　要：通过建立电离层NmF2与其不同影响因子的多元线性回归模型,应用偏相关方法分析了1957～2004年中国武汉电离层NmF2与对流层和平流层不同等压面高度的相关联系,结果表明偏相关方法能够有效剔除太阳活动,地磁活动以及季节因子的影响,真实地反映电离层NmF2与低层大气等压面高度的相关性质,两者在平流层中部有弱的正相关.通过偏相关系数的对比发现,电离层NmF2主要受太阳活动和季节因子的影响,地磁活动的影响很小,而低层大气等压面高度的影响很微弱.研究表明偏相关方法是判断电离层与其上下层大气耦合程度的有效工具.

关 键 词：偏相关 电离层 NmF2 低层大气 耦合 

分 类 号：P433[天文地球—大气科学及气象学]