XAFS在凝聚态物质研究中的应用  

XAFS applications in condensed matters

作　　者：韦世强[1] 孙治湖[1] 潘志云[1] 闫文盛[1] 钟文杰[1] 贺博[1] 谢治[1] 韦正[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥230029

出　　处：《中国科学技术大学学报》2007年第4期426-440,共15页JUSTC

基　　金：国家自然科学基金(10635060;20303014;10404023);中国科学院知识创新工程资助;合肥国家同步辐射实验室资助

摘　　要：详细介绍了X射线吸收精细结构谱学(XAFS)的理论、数据分析及实验等基本原理,以及XAFS在薄膜、纳米结构和体相材料(包括半导体、合金以及复杂氧化物)等凝聚态物质研究中的应用;同时,还介绍了原位XAFS、微区XAFS和时间分辨XAFS等新的实验方法,并对该方法的应用前景进行了展望.The basic principles of X-ray absorption fine structure （XAFS）, including the theory, the data analysis and the experiment in detail, were introduced. To display its strength as a local structure probe, the XAFS applications in condensed matters were summarized comprehensively, i.e. thin films, nanostructural and buck materials （including semiconductors, metallic alloys and complex oxide compounds）, etc. In addition, some new XAFS-related techniques, such as in-situ XAFS, micro-XAFS, time-resolved XAFS, were reviewed, and new applications of XAFS were given.

关 键 词：同步辐射 XAFS 原子和电子结构 纳米结构 凝聚态物质 

分 类 号：O722.8[理学—晶体学]