检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:于瀛大[1] 平德海[1] 彭红樱[1] 李斗星[1] 叶恒强[1]
机构地区:[1]中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室,沈阳110015
出 处:《金属学报》1997年第3期233-240,共8页Acta Metallurgica Sinica
基 金:国家自然科学基金;辽宁省博士起动基金
摘 要:在简述获得元素分布图实验方法的基础上,介绍利用HitachiHF-2000冷场发射枪透射电子显微镜。Elemental mapping with a high spatial resolution is indispensable to characterization of the nanoscale microstructure in the research of materials science. In the present paper, Gatan Model 678 Imaging Filter, which has been attached to HF-2000 FEG TEM, has been employed to study the microstructures at namometer scale in several materials.
分 类 号:TB302[一般工业技术—材料科学与工程]
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