基于扫描探针显微镜(SPM)的高密度信息存储  

SPM-Based High Density Data Storage

作　　者：姜桂元[1] 元文芳[1] 温永强[1] 高鸿钧[2] 宋延林[1] 

机构地区：[1]中国科学院化学研究所有机固体重点实验室 [2]中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京100080

出　　处：《化学进展》2007年第6期1034-1040,共7页Progress in Chemistry

基　　金：国家自然科学基金项目(No.506253126;0601027;20421101);国家基础研究发展计划(973)项目(No.2006CB806200)资助

摘　　要：随着信息技术的飞速发展,高密度信息存储的研究成为国际上备受关注的研究领域。扫描探针显微技术(SPM)通过改变材料的光、电、磁等局域特性可以实现纳米尺度的信息存储,成为提高信息存储密度的最有效手段之一。本文从信息存储材料和技术角度综述了基于SPM的高密度信息存储最近的研究进展,并讨论了其将来的研究与发展方向。With the rapid developments of information technology, high density data storage has become one of the most active research fields. By changing the local properties （optical, electrical and magnetic properties etc. ） of the recording media using scanning probe microscope （SPM）, including scanning tunnelling microscope （STM）, atomic force microscope （AFM）, scanning near-field optical microscopy （SNOM）, etc., nanometer-scale data storage can be successfully achieved, and this technology has been considered as one of the best way to promote the storage density. In this paper, the latest progress on SPM-based high density data storage is reviewed from the viewpoints of recording materials and technologies. The future research and development of SPM-based high density data are also discussed.

关 键 词：高密度信息存储 扫描探针显微镜 存储材料 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程] TB34[机械工程—仪器科学与技术]