一种ADC孔径抖动的测量方法  

A Method for Measuring the Aperture Jitter of ADC

作　　者：马宝元[1] 

机构地区：[1]太原理工大学信息工程学院,山西太原030024

出　　处：《科技情报开发与经济》2007年第16期166-167,178,共3页Sci-Tech Information Development & Economy

摘　　要：给出了孔径抖动与采样误差关系的数学模型,提出了利用直线拟合法测量孔径抖动的方法及实现该法的系统框图,并阐述了仿真的结果。This paper gives the mathematical model of the relationship between the error, and advances the method for measuring the aperture jitter by using the linear fitting the implementing system, and expounds the results of the simulation.

关 键 词：孔径抖动 测量方法 ADC 

分 类 号：TN792[电子电信—电路与系统]