X光显微镜可检测三维纳米材料  

出　　处：《金属功能材料》2007年第3期18-18,共1页Metallic Functional Materials

摘　　要：美国加利福尼亚大学的科研人员新近开发成功一种新型X光显微镜，它能够观察三维纳米材料。这种显微镜有助于设计出更好的电子材料、光学材料以及生体材料。这一新装置包括照射到纳米颗粒上的高功率X光光源和收集由试样散射出的X光收集系统。然后根据数据通过计算机构成三维图象。这种显微镜能够分辨小到17nm或几个原子大小的微粒。

关 键 词：X光显微镜 维纳米材料 美国加利福尼亚大学 检测 科研人员 电子材料 生体材料 光学材料 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程]