Simi—100数字集成电路多值逻辑测试仪  

出　　处：《电子质量》2007年第6期86-86,共1页Electronics Quality

摘　　要：Simi-100数字集成电路多值逻辑测试仪，是聚星电子技术研究所通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。

关 键 词：参数测试仪 数字集成电路 多值逻辑 数字IC 国内外市场 电子技术 IC应用 生产厂商 

分 类 号：TN783[电子电信—电路与系统]