热变形维卡测试仪的抗干扰措施  

作　　者：刘月红[1] 邹自明[1] 

机构地区：[1]桂林工学院电子与计算机系,广西桂林541004

出　　处：《桂林航天工业高等专科学校学报》2007年第2期11-13,共3页Journal of Guilin College of Areospace Technology

摘　　要：文章针对热变形维卡测试仪遭受到的干扰,选用了有利于简化硬件设计结构的PSOC作为应用系统核心控件,从软件和硬件两个方面对单片机系统的抗干扰采取了相应的处理措施,保证了系统能够在恶劣的环境下稳定、精确地运行。

关 键 词：可编程片上系(PSOC) 抗干扰 通道隔离 软件陷阱 

分 类 号：TP273[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]