非向量测试套件检测针脚缺陷  

出　　处：《电子设计技术 EDN CHINA》2007年第6期28-28,共1页EDN CHINA

摘　　要：安捷伦科技（Agilent）在NEPCON Shanghai 2007上推出了包括NPM测量技术在内的由非向量测试功能组成的套件——安捷伦Medalist VTEP v2．0，主要用来检测连接器电源针脚和接地针脚上的缺陷。在此之前，非向量测试技术一直被认为无法对电源针脚和接地针脚的缺陷进行测试。

关 键 词：测试套件 针脚 缺陷 向量 检测 安捷伦科技 测试功能 测量技术 

分 类 号：TP303[自动化与计算机技术—计算机系统结构]