金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系  

Relation of Roughness and Emitting Spectrum of Metal／Insulator／Metal Tunnel Junction

作　　者：张佑文[1] 孙承休[1] 高中林 孙曰俊 

机构地区：[1]东南大学电子工程系,东南大学物理系

出　　处：《电子学报》1997年第5期25-28,共4页Acta Electronica Sinica

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：在金属／绝缘层／金属（Ｍｅｔａｌ／Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ／Ｍｅｔａｌ，ＭＩＭ）隧道结发光中，粗糙度与表面等离电磁场量子（ＳｕｒｆａｃｅＰｌａｓｍｏｎＰｏｌａｒｉｔｏｎ，ＳＰＰ）的耦合起着非常重要的作用．本文利用原子力显微镜摄得发光ＭＩＭ隧道结粗糙表面的照片，研究了粗糙度分布的统计结果与测得的发光光谱之间的关系．In the processing of light-emission of Metal/Insulator/Metal (MIM) tunnel junction, the roughness coupling with Surface Plasmon Polariton (SPP) plays an important role. withthe photos of the light-emission MIM junctions taken by Atomic Force Microscope(AFM),we discussed the results of the statistical roughness distribution and the emitting spectrum measuredfrom the same MIM junction.

关 键 词：MIM结 SPP模 粗糙度 发光光谱 光电器件 

分 类 号：TN36[电子电信—物理电子学]