温度引起磁头偏道的分析  

作　　者：夏南[1] 刘本喜[1] 裴先登[1] 

机构地区：[1]华中理工大学计算机系,武汉430074

出　　处：《电子计算机外部设备》1997年第2期72-75,共4页

基　　金：国防科工委项研基金

摘　　要：对温度引起面伺服磁盘驱动器的磁头偏道特性进行了全面分析。驱动器工作时自身发热和环境温度的变化都能引起磁头的偏道。温度导致的磁头偏道有两个基本特征:一是磁头的偏道量和磁头距伺服头距离成正比;二是磁头的热偏道量随环境温度、工作时间和磁头位置不断地动态变化。研究磁头热偏道的基本特征对设计低热变形的硬盘驱动器及其补偿方法具有一定的指导作用。

关 键 词：硬盘驱动器 热偏道 温度 热变形 磁盘驱动器 

分 类 号：TP333.35[自动化与计算机技术—计算机系统结构]