低能高电荷态Ar^(q+)(q=12,13)离子诱发钼L壳层X射线强度的研究(英文)  

L shell X-ray intensity of Mo bombarded by slow highly charged Ar^(q+)(q=12,13) ions

作　　者：徐进章[1] 杜娟[1] 徐徐[1] 陈熙萌[1] 胡碧涛[1] 邵剑雄[1] 崔莹[1] 杨治虎[2] 张红强[1] 张毅 肖国青[2] 张小安[3] 王博宇[1] 

机构地区：[1]兰州大学核科学与技术学院,兰州730000 [2]中国科学院近代物理研究所,兰州730000 [3]咸阳师范学院,咸阳713000

出　　处：《原子与分子物理学报》2007年第4期858-862,共5页Journal of Atomic and Molecular Physics

基　　金：科技部基金(2002CCA00900);国家自然科学基金(10374039);甘肃省自然科学基金(ZS031-A25-001-Z);博士点基金(20030730004)

摘　　要：本文报导了低能高电荷态Arq+(q=12,13)离子诱发的钼L壳层X射线强度随入射粒子能量的变化趋势,研究表明当入射粒子能量高于220 keV时,钼L壳层X射线强度有明显增加的的趋势.同时,我们提出了一个简单的模型去估计这种趋势随入射能量的变化.模型计算的结果与实验值符合的比较好.The intensity of molybdenum L-shell X-ray emission induced by hr^12＋ and Ar^13＋ was measured. The energy of Ar ions ranges from 150 keV to 350 keV. The present experimental results show that the X-ray intensity increases dramatically with the projectile energy, especially when the energy larger than 220 keV. A new simple classical model is proposed and agrees well with the experimental data.

关 键 词：L壳层X射线 钼 氩离子 低能高电荷态 

分 类 号：O562.5[理学—原子与分子物理]