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作 者:孙民华[1] 牟洪臣[1] 王玉玺[1] 李德敏[1] 王爱屏[1] 马丛笑[1] 程伟东[1] 王丹[1] 刘佳[1]
出 处:《核技术》2007年第7期568-570,共3页Nuclear Techniques
基 金:黑龙江省教育厅科学技术研究项目(11511125)资助
摘 要:采用原位加热,用同步辐射X射线小角散射法研究了石蜡加热软化过程中的微结构变化。石蜡的电子密度回转半径从22℃的11.61nm减至100℃的11.16nm,而均方电子密度均方起伏从22℃的468nm-2升高到100℃的2416nm-2。由此,石蜡变软并非由内部结构单元变小引起,而主要由分子热运动加剧引起。Structural evolution of olefin during its heating process was observed with SAXS method at Beijing Synchrotron Radiation Facility. The mean square fluctuation of electron density increased from 468.5 nm^2 at 22℃ to 2416 nm^2 at 100℃, while the electronic gyration radius decreased from 11.61 nm at 22℃ to 11.16 nm at 100℃. Therefore, the olefin softens as a result of the increased thermal motion of the molecules, rather than the shrinking size of fundamental structural units of olefin.
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