温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响  

作　　者：丁秉钧[1] 李宏群[1] 王笑天[1] 王季梅[1] 吴学栋 冯巧贤 

机构地区：[1]西安交通大学 [2]秦川机械厂

出　　处：《高压电器》1990年第6期40-44,共5页High Voltage Apparatus

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文测定了Cu、Cu-Te、Ca-Se、Cu-Te-Se-Fe、Cu-Cr等触头材料在300～1600K温度范围内的耐电压强度。测定结果表明,对于不同的触头材料,存在不同的临界温度。并用扫描电镜观察了在高温下被击穿触头材料的表面形貌,根据观察到的形貌特点和Langmuir空间电荷方程讨论了温度对耐电压强度的影响。

关 键 词：真空断路器 触头材料 耐压强度 

分 类 号：TM561.203[电气工程—电器]