双路测试模式在动态RAM测试中的应用  

作　　者：陈湘文[1] 

机构地区：[1]江南计算技术研究所

出　　处：《微电子测试》1997年第2期21-27,5,共8页

摘　　要：如何利用测试系统现有的资源来开发对集成电路的测试是测试技术工作者的重要任务。S15测试系统中的算法图形产生器(APG)为存储器的测试提供了良好的环境,它是专门用来测试静态存储器和动态存储器的。因此,要研究怎样利用APG及S15系统本身的资源来开发对存储器的测试,尤其是对动态RAM的测试,由于它的电路结构而使地址信息的传送具有一定的特殊性,这是动态RAM测试的关键所在。本文提出采用双路测试模式解决动态RAM的测试问题,并以1兆位动态RAM为例,对如何编制它的测试程序作一简单介绍。

关 键 词：集成电路 双路测试模式 动态RAM 测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]