边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用  

The applying of border scanning measurement and data processing in IC test

作　　者：耿爽[1] 宋金杨[1] 郜月兰 

机构地区：[1]东北微电子研究所,辽宁沈阳110032 [2]沈阳辽海机械厂,辽宁沈阳110001

出　　处：《沈阳航空工业学院学报》2007年第2期53-55,共3页Journal of Shenyang Institute of Aeronautical Engineering

摘　　要：边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用。Boundary- scan technology（ BST） is a new and effective way to test and design - for - testability（DFT） for VLSI circuits. It provides a solution plan to test component - functionality, board interconnection and interaction. In this essay ,the theory,architecture and its application of BST were introduced.

关 键 词：边界扫描 边界扫描测试技术 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]