CCD光纤光谱仪结构研究  

作　　者：蔡红星[1] 肖亚飞[2] 邵桢[1] 赵猛[1] 陈新邑[1] 

机构地区：[1]长春理工大学,长春130022 [2]清华大学

出　　处：《电子测试》2007年第8期29-32,36,共5页Electronic Test

基　　金：国家自然科学基金(No.50334040)

摘　　要：本文主要研究了利用电荷耦合器件(CCD)阵列为探测器,光线由光纤入射的光纤光谱仪摄谱结构的原理特性,并着重对平场像差校正凹面全息光栅摄谱结构中各元件与系统性能之间的关系做了深入的分析和探讨。

关 键 词：摄谱结构 平场像差校正凹面全息光栅 入射狭缝 

分 类 号：TN253[电子电信—物理电子学]