自动测试系统校准技术研究  

作　　者：杨瑞青[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450015

出　　处：《电光系统》2007年第2期62-65,共4页Electronic and Electro-optical Systems

摘　　要：自动测试系统校准从方法上可以分为离位校准和原位校准两大类，本文分析了离位校准方法的特点及缺陷和原位校准方法的特点及优点，研究了自动测试系统采用原位校准的工作原理和方法，对校验适配器和校准软件的设计技术进行了阐述。

关 键 词：原位校准 校验适配器 不确定度 IVI技术 ATLAS 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]