基于改进模板匹配的芯片缺陷检测方法  

A Recognition Method of IC defect Based on Modified Templet Matching

作　　者：王平[1] 白秀玲[1] 

机构地区：[1]河南科技大学电子信息工程学院,河南洛阳92471039

出　　处：《微计算机信息》2007年第01S期135-136,共2页Control & Automation

基　　金：河南省杰出青年基金会资助(编号9922)

摘　　要：提出了一种改进的模板匹配方法。该方法是在传统的模板匹配方法的基础上,通过对模板匹配算法的改进,以达到更快速的匹配结果。实验结果表明,此方法可以快速测出管脚个数及间距.系统检测精度高,实时性好,满足在线检测的要求。A modified templet matching method was proposed. It was based on traditional templet matching method, the modified templet matching is desighed to achieve matching results quickly.Experimental results show that it may detect the pin spacing fast through this method.Precision and realtime can be to online inspect.

关 键 词：IC芯片缺陷 模板匹配 图象处理 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]