检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]空军工程大学 工程学院,陕西西安710038
出 处:《计算机测量与控制》2007年第8期981-983,共3页Computer Measurement &Control
基 金:电子测试技术国防科技重点实验室基金项目(51487020305JB3201)。
摘 要:并行测试已成为未来自动测试领域的发展趋势,而计算机技术的飞速发展为并行测试提供了许多思想和实现方法;在给出理想的并行测试结构框架后,文中着重从计算机技术应用的角度论述了并行测试的方法;多处理器和单处理器并行测试结构成为并行测试的两种主要体系,这其中又具体为分布式并行测试结构、协处理器结构,以及多进程、多线程结构等;这些结构体系各有特点,在搭建并行测试系统时应适情况选取,以便更大程度地提高测试速度、效率,节约测试资源。Parallel test becomes the trend of development in future of automatic test system. Many ideas and implementation methods of parallel test have been provided for with the instant development of computer technology. After giving the idea larchitecture of parallel test, the paper discusses concrete implementation methods of parallel test from applications of computer technologies. Multiprocessor and monoprocessor have become two main architectures of parallel test. It also can be divided into distributed, coprocessor, multiple processes, and multiple threads architecture in details, These four structures have their own features, so we must choose them on physical circumstances to improve test speed and efficiency and save test resources.
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