高度电离的锗激光等离子体X射线谱的辨认  

Identification of X-ray spectral lines in high-charged laser-producde Ge plasma

作　　者：马国彬[1] 韩国强[1] 王欣[1] 顾援[1] 王世绩[1] 仇阳辉 

机构地区：[1]中国工程物理研究院上海激光实验室 [2]应用物理与计算数学研究所

出　　处：《光学学报》1990年第7期587-591,共5页Acta Optica Sinica

摘　　要：本文结合理论计算得到的锗类钠、类氖、类氟、类氧离子的振子强度,对平面晶体谱仪拍摄的锗激光等离子体X射线谱,波长在6～10(?)范围内的40多条谱线进行了分类辨认.With the calculated oscillator strengths of Na-, Ne-, F- and O- like Ge ions, over forty lines (λ= 6-10A) of laser-produced Ge plasma taken by a plate crystal spectrograph have been identified.

关 键 词：锗 激光 等离子体 X射线谱 

分 类 号：O536[理学—等离子体物理]