精确测定碳纳米管螺旋度的电子衍射方法  

Determination of the chirality of carbon nanotubes by electron diffraction

作　　者：秦禄昌[1] 

机构地区：[1]北卡罗莱纳大学物理系

出　　处：《电子显微学报》2007年第4期342-355,共14页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：本文介绍精确测定碳纳米管原子结构的电子衍射方法。电子衍射方法利用碳纳米管的电子衍射图与碳纳米管螺旋指数(u,v)间的内在关系,可以从(a)衍射层线上的电子散射强度分布或(b)衍射层线间距的比例测定碳纳米管的螺旋指数。电子衍射方法是迄今为止测定碳纳米管的螺旋指数的最有效方法。电子衍射方法除具有结果精度高外,亦可用于测定多层碳纳米管的每层的螺旋指数。This article reviewed the recent results on the determination of the chirality of carbon nanotubes using electron diffraction, which gives by far the most comprehensive and reliable measurement of the chirality of carbon nanotubes, both single-walled and muhiwalled. Two recent advances were summarized in this articles： （a） Obtain the chiral indices （ u, v） directly from the electron diffraction patterns using the scattering intensity peaks Il1 , Il2, and Il3 on the principal layer lines l1, l2, and l3, Il1（πdR）∝｜Jv （πdR）｜^2, Il2（πdR）∝｜Ju （πdR）｜^2, and Il3（πdR）∝｜Ju＋v （πdR）｜^2 ;and （b） Obtain the chiral indices （u, v） from the ratio v/u which can be measured accurately from an experimental electron diffraction pattern.

关 键 词：碳纳米管 电子衍射 纳米结构 纳米材料 

分 类 号：TB383.1[一般工业技术—材料科学与工程]