Ta_2O_5-TiO_2调制结构和介电性能相关性  

Correlations between dielectric property and modulated structure in the (Ta_2O_5)_(0.92)(TiO_2)_(0.08) system

作　　者：刘显强[1] 韩晓东[1] 张泽[1] 

机构地区：[1]北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100022

出　　处：《电子显微学报》2007年第5期434-440,共7页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家973项目(No.2002CB613500);教育部新世纪人才计划支持;北京市人才强教计划支持.

摘　　要：本文略述了近来用高分辨电子显微术及其模拟技术,解析Ta2O5和(Ta2O5)1-x(TiO2)x的晶体结构的进展,并揭示了(Ta2O5)1-x(TiO2)x固溶体中由于Ti离子有序占据八面体位置所形成的调制结构和介电性能之间的关联。　This article introduced the recent progresses in the crystalline structural determination of Ta2O5 and （Ta2O5）1-x（TiO2）x using TEM techniques,including HREM and the corresponding simulations.The crystalline structural details of Ta2O5 and（Ta2O5）1-x（TiO2）x suggest the correlations between the ordered structure and the high dielectric constant in（Ta2O5）0.92（TiO2）0.08 system.

关 键 词：有序结构 高分辨电子显微术 介电性能 

分 类 号：O738[理学—晶体学]