用于X射线光谱分析含碳化硅材料的制样方法  

机构地区：[1]宝山钢铁股份有限公司

出　　处：《化学分析计量》2007年第5期76-76,共1页Chemical Analysis And Meterage

摘　　要：一种用于X射线光谱分析含碳化硅材料的制样方法，包含以下步骤：配制混合氧化剂；制备熔剂挂壁打底的铂金坩埚；将配制混匀后的含碳化硅耐火材料样品与混合氧化剂倒入已南熔剂挂壁打底的铂金坩埚内；将铂金坩埚放入高温熔融炉中，在低温下加热氧化，制成用于X射线荧光光谱分析的玻璃珠。本发明方法，制成的用于X射线荧光光谱分析的玻璃珠，元素分布均匀，无颗粒效应和矿物效应，可长期保存；同时在制样过程中，

关 键 词：X射线光谱分析 碳化硅材料 制样方法 X射线荧光光谱分析 碳化硅耐火材料 混合氧化剂 铂金坩埚 加热氧化 

分 类 号：TQ533.5[化学工程—煤化学工程]