一种基于FPGA的准单输入跳变序列生成器设计  

Improvement on Test Generator Based on FPGA

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作  者:陈卫兵[1] 汤兰[1] 

机构地区:[1]阜阳师范学院物理系,阜阳236041

出  处:《电子质量》2007年第10期34-35,共2页Electronics Quality

摘  要:本文针对一种准单输入跳变序列测试生成器的测试缺点,提出了一种改进的设计方案并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。This paper gives an improvement on the test generator which can produce pseudo singleinput-change sequence ,and this design is realized on FPGA chip by EDA technique.

关 键 词:EDA FPGA LFSR 折叠序列 准单输入跳变序列 

分 类 号:TN791[电子电信—电路与系统]

 

参考文献:

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引证文献:

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