PLZT纳米薄膜的制备及其特性研究  

Preparation and Properties of PLZT Nanometer Thin Film

作　　者：宿杰[1] 余大书[1] 郭云峰[2] 何聚[3] 王立群[1] 

机构地区：[1]天津师范大学物理与电子信息学院,天津300074 [2]天津大学理学院应用物理系,天津300072 [3]黄山学院电子信息工程系,黄山245041

出　　处：《人工晶体学报》2007年第3期668-671,共4页Journal of Synthetic Crystals

基　　金：天津市高等学校科学发展基金(No.20041022);天津师范大学青年科研基金(No.52LJ39);天津师范大学自然科学基金(No.5RL019)资助项目

摘　　要：经溶胶-凝胶法制备出PLZT纳米多层膜,采用热重-差热、X射线衍射、拉曼光谱、SEM等对目标产物进行性能和微结构分析。结果表明:在700℃下保温30min,得到粒径约为50～70nm钙钛矿结构的PLZT纳米薄膜,随Zr含量增大粒径变小,且由三方相向四方相转变。The Pb0.93La0.07 （ZrxTi（1-x））0.93O3 （abbreviated as PLZT） thin film was prepared by Sol-gel process. The samples were investigated by TG-DTA, XRD, Rama spectrum and SEM. The results show that the PLZT nanosized thin film with perovskite structure in size of about 50-70nm was obtained at 700℃ sintering for 30min, The particle size of PLZT nanosized thin film decreases and the phases of PLZT nanosized thin film shifts from tetragonal to thombohedral with the increasing of the Zr concentration.

关 键 词：溶胶-凝胶法 不同Zr/Ti比 PLZT纳米薄膜 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]