正常光照下亚动态云纹干涉法及其应用研究  

TXMOIRE INTERFEROMETRY FOR SUBDYNAMIC TESTS IN NORMAL LIGHI ENVIRONMENT AND ITS RESEARCHOF APPLICATION

作　　者：罗至善[1] 张桂琴[1] 穆宗学 苏飞 孙立伟 

机构地区：[1]天津大学力学与工程测试系

出　　处：《机械工程学报》1997年第4期38-43,共6页Journal of Mechanical Engineering

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：提出了在正常光照和低频振动条件下进行云纹干涉法试验的机理，研制了相应的光学—电子—计算机系统，实现了其仪器化和智能化；灵敏度达４８００线／ｍｍ，实现了全场的自动采集，应力、应变和应力强度因子等的快速提取，可获得丰富信息；还可按预置值发出危险警报。Abstract A principle of the moire interfetometry is adtanced for subdynamic tests in normal light environment,and a corresponding device including a photoelectric computer is developed for its instrumentation and intellectualization.The sensitivity has reached 4 800

关 键 词：云纹干涉法 亚动态 计算机辅助 应力分析 

分 类 号：O348.12[理学—固体力学]