基于PC-DMIS的阵列测量  

Array Measurement Based on PC-DMIS

作　　者：刘兆平[1] 黄经元[1] 沈璟[1] 

机构地区：[1]九江职业技术学院,江西九江332007

出　　处：《计量与测试技术》2007年第6期45-46,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：巧妙利用PC-DMIS PRO中提供的阵列功能进行工件的测量,可节省编程时间,大大提高工作效率。

关 键 词：PC—DMIS 阵列 测量 

分 类 号：TH72[机械工程—仪器科学与技术]