X射线荧光法检测金属镀层厚度  

Determination of Metal Plating Thikness by X Ray Fluorescence Method

作　　者：严振庄[1,2] 谢东[1,2] 刘亨远 

机构地区：[1]河北师范大学物理系 [2]河北省商检局

出　　处：《河北师范大学学报（自然科学版）》1997年第2期153-155,共3页Journal of Hebei Normal University：Natural Science

摘　　要：介绍了用γ辐射源激发Ｘ射线荧光法测定金属镀层的镀布量的方法，并同其他检测手段做了对比。In the paper a method of determing metal plating mass thickness by X Ray fluorescence method using γ radiation source is introduced.It is contrasted with other determination means,and find that X Ray fluorescence method is most accurate.

关 键 词：X射线荧光法 金属镀层 厚度 检测 

分 类 号：TQ153[化学工程—电化学工业]