北师大串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展  

Recent progresses in ion beam analysis of aerosol at tandetron laboratory of Beijing Normal University

作　　者：王广甫[1,2] 鲁永芳[1] 朱光华[1] 

机构地区：[1]北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,北京100875 [2]北京师范大学分析测试中心

出　　处：《核技术》2007年第12期1023-1027,共5页Nuclear Techniques

基　　金：国家自然科学基金(10275006)资助

摘　　要：气溶胶样品中Z>12元素含量的质子X射线荧光分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补该方法不能分析H、C、N和O等轻元素之不足,我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子前角弹性散射分析和非卢瑟福背散射方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量。PIXE analysis of aerosol samples for measuring concentrations of elements with Z〉12 is one of major applications at the GIC4117 Tandetron in Beijing Normal University. In order to measure H, C, N and O concentration in aerosol samples, proton non-Rutherford back scattering spectrometry （PNBS） and proton elastic scattering analysis（PESA） were employed with two Au（Si） surface barrier detectors at angles of 160°and 40° in the PIXE chamber.

关 键 词：质子弹性散射分析 非卢瑟福背散射 气溶胶 轻元素含量 

分 类 号：O648.18[理学—物理化学]