诱导效应指数与X-SiR_xH_(3-x)键的键裂能  

The Inductive Effect Index and the Bond Dissociation Energies of X SiR x H 3- x

作　　者：张秀利[1,2] 陈惠兰[1,2] 

机构地区：[1]河北科技大学基础部 [2]河北师范大学数学系

出　　处：《河北师范大学学报（自然科学版）》1997年第3期287-290,共4页Journal of Hebei Normal University：Natural Science

摘　　要：利用诱导效应指数，建立了两个用以计算硅烷基衍生物中Ｘ—Ｓｉ键的键裂能的方法．２４个可比较值的平均偏差分别为３．１５和２．５７ｋＪｍｏｌ－１．同时，也得到两个用以计算硅烷基自由基的生成热的方法，４个可比较值的平均偏差分别为０．８５，１．In this paper we have built up two method for calculating the bond dissociation energies of alkylsilicane derivatives and for calculating the heats of formation of alkylsilicane radicals from their group parameters of inductive effect index.The average errors of estimation from the two methods for bond dissociation energies of 24 compounds are 3.13 and 2.57 kJ·mol -1 ,and for heats of formation of 4 radicals are 0.85 and 1.10kJ·mol -1 respectively.

关 键 词：诱导效应指数 键裂有 硅烷基衍生物 化学键 

分 类 号：O627.41[理学—有机化学] O641.2[理学—化学]