一种有效的八位MCU桶形移位器BIST电路  

An effective BIST circuit for barrel shifter within 8 bits MCU

作　　者：徐新民[1] 洪波[1] 尚丽娜[1] 何乐年[2] 

机构地区：[1]浙江大学电子线路与信息系统研究所,浙江杭州310027 [2]浙江大学超大规模集成电路设计研究所,浙江杭州310027

出　　处：《电路与系统学报》2007年第6期85-88,共4页Journal of Circuits and Systems

摘　　要：针对8位微控制器(MCU)数据通道中桶形移位器的可测试性问题,提出了一种新颖的确定性内置自测试(BIST)电路设计方案,并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器,在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量,可完成对8位桶形移位器100%故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2N位(N≥4)桶形移位器的可测试设计。A novel deterministic built-in self-test （BIST） scheme for barrel shifter embedded in 8 bits MCU datapath is proposed, and the validation is also provided. With this scheme, 5 D-type registers are required and 16 patterns are generated during 16 test clock cycles, while the fault testing coverage can reach 100%. This scheme is also fit for DFT for general 2^N （N≥4） bits barrel shifter.

关 键 词：桶形移位器 数据通道 确定性内置自测试 可测试设计 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]