Buck型小功率DC／DC模块电源总剂量辐照实验研究  

作　　者：张莹[1] 杜磊[1] 包军林[1] 张婧婧[1] 赵志刚[1] 杨丽侠[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学

出　　处：《混合微电子技术》2007年第4期5-8,共4页Hybrid Microelectronics Technology

摘　　要：用于空间系统的电子元器件和电路性能受辐照累积剂量的严重影响。本文针对一种Buck型小功率DC／DC模块电源进行了电离辐照实验，研究结果表明：随着辐照剂量的增加，该类器件输出电压增大，输入电流增大和整体转换效率降低，且加偏辐照DC／DC模块电源更早出现上述参数退化，其低频噪声参量呈现出与电参数相似但幅度更大的退化趋势。进一步的研究结果表明，其内部的功率MOSFET辐照引起的阈值电压漂移是导致该类电源辐照后输出电压增加的主要原因。本文研究结果可为该类器件的抗辐照性能加固提供实验基础。

关 键 词：DC/DC模块电源 电离辐照 转换效率 低频噪声 抗辐照加固 

分 类 号：TN86[电子电信—信息与通信工程]