CCD技术在显微硬度测量中的应用  

作　　者：李金颖[1] 石伟[1] 陶继增[1] 徐明[1] 

机构地区：[1]中国一航北京长城计量测试技术研究所,北京100095

出　　处：《计测技术》2007年第6期48-49,共2页Metrology & Measurement Technology

关 键 词：硬度测量 CCD技术 应用 读数显微镜 图像传感器 DEVICE 电荷藕合器件 试验方法 

分 类 号：TG115.51[金属学及工艺—物理冶金]