低比度测量高纯锗能谱仪的一种效率刻度方法  

作　　者：吴伟明[1] 阮向东[1] 许少杰[1] 

机构地区：[1]广西大学物理系

出　　处：《广西大学学报（自然科学版）》1997年第2期109-113,共5页Journal of Guangxi University（Natural Science Edition）

摘　　要：介绍对本实验室用于低水平放射性比活度测量的高纯锗能谱仪作效率刻度的方法，即先用１５２Ｅｕ点源作相对效率刻度，然后用一个体标准源把相对效率刻度曲线转换成绝对效率曲线．实验证明，只要点源与探测器有足够的距离则可避免符合相加修正．

关 键 词：高纯锗探测器 Γ能谱 辐射探测 高纯锗能谱仪 

分 类 号：TL816[核科学技术—核技术及应用]