检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院,黑龙江哈尔滨150040
出 处:《哈尔滨理工大学学报》2007年第6期43-45,共3页Journal of Harbin University of Science and Technology
摘 要:介绍了压电晶体在干涉条纹扫描技术中的应用,对压电晶体的线性工作区域以及滞后和蠕变的问题进行了讨论,并对压电晶体的线性度等性能指标进行测试,确定出一个实验比较适合的工作范围.重点阐述了压电晶体驱动电路以及程序的设计,并讨论了调试和测试结果.This article introduces the piezoelectric crystal scans application in technology of interference streak; Then it discusses the problem of piezoelectric crystal linearity working space, as well as lagging and creep, and tests the piezoelectric crystal function index, for instance the Linearity degree, then ascertains efficient range of experiment comparatively suitable ; Finally it expounds the design of the piezoelectric crystal drives circuit and procedure, and discusses the result debugging and testing.
分 类 号:TN86[电子电信—信息与通信工程]
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