第14届世界无损检测大会工业CT的层析成像技术  被引量:2

Brief Introduction on Computed Tomography (CT) Through 14 th World Conference on Non-Destructive Testing (14th WCNDT)

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作  者:先武[1] 魏彪[1] 

机构地区:[1]重庆大学ICT研究中心

出  处:《CT理论与应用研究(中英文)》1997年第4期1-4,共4页Computerized Tomography Theory and Applications

摘  要:介绍了新近14届世界无损检测大会有关情况,并对工业CT的发展动态进行了简要的分析。: Newly information from 14th World Conference on Non-Destructive Testing(14th WCNDT)is introduced in this paper.Based on that,we analyse international development status for industrial computed tomography(ICT),and show that ICT still is one of high science & technology not to be declassified by the developed countries.

关 键 词:工业CT 高科技 CT 层析成角 无损检测 

分 类 号:TH878.1[机械工程—仪器科学与技术]

 

参考文献:

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