两总体下双参数指数分布门限参数的比较  

COMPARISON FOR GATE PARAMETERS OF TWO-PARAMETER EXPONENTIAL DISTRIBUTION UNDER TWO POPULATIONS

作　　者：李正帮[1] 李波[1] 周小双[2] 赵培信[2] 

机构地区：[1]华中师范大学数学与统计学学院,湖北武汉430079 [2]武汉大学数学与统计学院,湖北武汉430072

出　　处：《数学杂志》2008年第1期100-104,共5页Journal of Mathematics

基　　金：国家自然科学基金(10371092);数学天元基金(10526021)

摘　　要：本文研究了当刻度参数未知时,双参数指数分布门限参数的检验问题.利用了似然比检验的方法,获得了检验统计量及检验水平的上下界.该方法应用在两个截尾数相等情形下,所得到的检验水平是真实的.In this paper, we discuss the hypothesis testing problem for gate parameters of two-parameter exponential distribution under two populations based on the idea of likelihood functions ratio. Test statistics is derived ,and we get its distribution under the null hypothesis.

关 键 词：定数截尾 双参数指数分布 检验 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计]